Растровая электронная микроскопия и рентгеноспектральный...

Main
Растровая электронная микроскопия и...

Растровая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ

Пашкеев, И. Ю. (авт.)

0 / 0

Насколько вам понравилась эта книга?

Какого качества скаченный файл?

Скачайте книгу, чтобы оценить ее качество

Какого качества скаченные файлы?

Издательство:

ЮУрГУ

Язык:

russian

Файл:

PDF, 5.25 MB

IPFS:

,

russian0

Читать Онлайн

Выполняется конвертация в

Конвертация в не удалась

Вас может заинтересовать

Пронин Александр Александрович — Физические основы нанотехнологий

Папко, Людмила Федоровна — Физико-химические методы исследования неорганических веществ и материалов

Папко, Людмила Федоровна — Физико-химические методы исследования неорганических веществ и материалов. Практикум

Авдин, В. В. — Физические методы исследования

Зеер Галина Михайловна — Методы структурного анализа и контроль качества изделий : учебно-методическое пособие

Бычков Петр Степанович, — Физико-химические методы исследования. Методические указания к лабораторным работам : учебно-методическое пособие

коллектив авторов. — Электронно-зондовый микроанализ

Деркач В. — Электроннозондовые устройства

Вольдсет Р. — Прикладная спектрометрия рентгеновского излучения.

Козионов А.Е. — Исследование горных пород с помощью комплекса сканирующей микроскопии и энерго-дисперсионного микрозондирования с применением алгоритмов количественной оценки минеральных компонентов и пустотного пространства породы на микроуровне

Сахаров Н. В., Фаддеев М. А. — Растровая электронная микроскопия: Учебное пособие

А. Р. Хайруллин, Н. С. Хайруллин, В. А. Петров, Н. В. Аверьянова — Микроструктурный анализ энергонасыщенных материалов методами оптической и электронной микроскопии: методические указания

Ищенко А. А., Лукьяно А. Е. — Методы анализа поверхности. Часть 1. Методы локального анализа иэлектронная микроскопия: Учебное пособие

Иванов В. К., Баранчиков А. Е., Носикова Л. А. — Исследование материалов методами РЭМ и БЭТ: Учебное пособие

Сахаров Н. В., Фаддеев М. А. — Растровая электронная микроскопия: Учебное пособие

Кальнер В.Д., Зильберман А.Г. — Практика микрозондовых методов исследования металлов и сплавов.

— МЕТОДЫ И ОБОРУДОВАНИЕ КОНТРОЛЯ ПАРАМЕТРОВ ТЕХНОЛОГИЧЕСКИХ ПРОЦЕССОВ ПРОИЗВОДСТВА НАНОГЕТЕРОСТРУКТУР И НАНОГЕТЕРОСТРУКТУРНЫХ МОНОЛИТНЫХ ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ

Ю.А. Юраков — Исследование наноструктурированных материалов методом растровой электронной микроскопии

Г. М. Зеер — Новые конструкционные материалы : учеб.-метод. пособие для практич. занятий

Кулаков Ю. А. — Электронная микроскопия

Смирнов С.В. — Методы и оборудование контроля параметров технологических процессов производства наногетероструктур и наногетероструктурных монолитных интегральных схем

Смирнов С.В. — Методы и оборудование контроля параметров технологических процессов производства наногетероструктур и наногетероструктурных монолитных интегральных схем

Николичев Д.Е., Боряков А.В. — Локальная диагностика состава полупроводниковых наносистем методом сканирующей оже-микроскопии

Батаев А.А., Батаев В.А. и др. — Физические методы контроля качества материалов

Свиридов Д.В. — Физические методы исследования в химии

Заблоцкий А.В., Тимофеев А.А., Коростылёв Е.В., Кузьмин А.А. — Электронная микроскопия в нанодиагностике

Петухов В.Ю., Гумаров Г.Г. — Исследование поверхностных слоев твердых тел методом скользящего рентгеновского пучка

Горюнов А.В. — Рентгенофазовый анализ порошковых материалов на дифрактометре ДР-02 РАДИАН

Биркс Л.С. — Рентгеновский микроанализ с помощью электронного зонда

Петров А.А. — Электронная и ионная спектроскопия материалов и структур микро - и оптоэлектроники

Заболеев-Зотов В.В. — Современные способы исследования металлов

коллектив авторов — Методы и приборы для анализа электронных компонентов в микро - и наномасштабе

Осьмушко И.С., Вовна В.И., Короченцев В.В. — Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия твёрдых тел: теория и практика

сост. А. П. Гардымова. — Испытание и диагностика материалов и структур микро- и наноэлектроники. Введение в электронную микроскопию

Коллектив авторов — Рентгенография и электронная микроскопия

Ключевые слова

электронов

поверхности

электроны

излучения

рентгеновского

первичного

вторичных

микроанализа

микроскопа

вещества

характеристического

дисперсии

спектрометра

электронная

излучение

изображение

исследования

электронного

выбранной

изображения

проведения

распределение

электронной

диффузии

микроскопия

электрона

элементов

материала

микроскопе

образцов

позволяет

увеличении

волновой

микроанализ

микроскоп

плоскости

поверхность

рассеяния

растровая

растровом

рентгеновское

электронном